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X射线晶体分析仪
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TDF系列X射线晶体分析仪是研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器,主要应用于单晶定向、检验缺陷、测定点阵参数、测定残余应力、研究板材、棒材的结构、研究未知物质的结构和单晶位错等。
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